পণ্যের বিবরণ
|
নাম:
|
সিলিকন থার্মাল ইন্টারফেস উপকরণ
|
টেস্ট আইটেম:
|
তাপ প্রতিবন্ধকতা
|
ইউনিট:
|
℃-in^2/W
|
LE200:
|
0.090
|
পরীক্ষার পদ্ধতি:
|
ASTM D5470
|
|
নাম:
|
সিলিকন থার্মাল ইন্টারফেস উপকরণ
|
|
টেস্ট আইটেম:
|
তাপ প্রতিবন্ধকতা
|
|
ইউনিট:
|
℃-in^2/W
|
|
LE200:
|
0.090
|
|
পরীক্ষার পদ্ধতি:
|
ASTM D5470
|
পাওয়ার ডিভাইস, সিপিইউ এবং জিপিইউ-তে উন্নত তাপ অপচয়ের জন্য ডিজাইন করা উচ্চ-কার্যকারিতা সম্পন্ন থার্মাল ইন্টারফেস উপাদান।
| পরীক্ষার আইটেম | একক | LE200 মান | পরীক্ষার পদ্ধতি |
|---|---|---|---|
| রঙ | - | সাদা/ধূসর | দৃশ্যত |
| ধারাবাহিক ব্যবহারের তাপমাত্রা | ℃ | -40~150 | - |
| ওজন হ্রাস | % | ≤0.3 | @150℃240H |
| ব্রেকডাউন ভোল্টেজ | KV/মিমি | ≥10 | ASTM D149 |
| ভলিউম রেজিস্ট্যান্স | Ω·সেমি | 9*10^11 | ASTM D257 |
| ডাইইলেকট্রিক ধ্রুবক | @1MHz | 5.78 | ASTM D150 |
| ডাইইলেকট্রিক অপচয় | @1MHz | 6.49E-03 | ASTM D150 |
| তাপ পরিবাহিতা | W/m·K | 2.0 | ISO 22007-2 |
| থার্মাল ইম্পিডেন্স | ℃-in²/W | 0.090 | ASTM D5470 |