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名前:
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シリコン熱インターフェース材料
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試験項目:
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熱インピーダンス
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ユニット:
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℃-in^2/W
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LE200:
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0.090
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テスト方法:
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ASTM D5470
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名前:
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シリコン熱インターフェース材料
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試験項目:
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熱インピーダンス
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ユニット:
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℃-in^2/W
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LE200:
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0.090
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テスト方法:
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ASTM D5470
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パワーデバイス、CPU、GPUの優れた放熱性を実現する高性能熱界面材料。
| 試験項目 | 単位 | LE200 値 | 試験方法 |
|---|---|---|---|
| 色 | - | 白/グレー | 目視 |
| 連続使用温度 | ℃ | -40~150 | - |
| 重量損失 | % | ≤0.3 | @150℃240H |
| 破壊電圧 | KV/mm | ≥10 | ASTM D149 |
| 体積抵抗率 | Ω・cm | 9*10^11 | ASTM D257 |
| 誘電率 | @1MHz | 5.78 | ASTM D150 |
| 誘電正接 | @1MHz | 6.49E-03 | ASTM D150 |
| 熱伝導率 | W/m・K | 2.0 | ISO 22007-2 |
| 熱抵抗 | ℃-in^2/W | 0.090 | ASTM D5470 |